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月夜狼歌



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论文被收了,有球用

题目大概是
MULTIPLE DELAY FAULT DIAGNOSIS WITH GATE LEVEL CIRCUIT TUNING
以前问老板我们做的东西工业界要花几年才能真正用上
老板说95%是不用的
其他的,运气好10到15年吧
顶端 Posted: 2011-07-26 10:26 | [楼 主]
lvbo24



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Quote:
引用第8楼月夜狼歌于2011-07-27 03:54发表的  :
原理不难哈
现在的芯片制作工艺已经到CMOS极限了。PN结上掺杂原子多几个或者少几个,一个gate的性能就能差不少。然后工艺尺寸(比如现在的23纳米)早就比用来光蚀的激光波长还要短了。类似的种种不确定因素,导致一些gate先天不足,但是长久使用并不会坏。如果丢了又可惜,因为概率上讲特别慢的gate在几千万gate的电路里就那么几个。

CIRCUIT TUNING是我老板手下另一个学生做的,在每个gate的输出加一个可编程控制的上拉或者下拉MOS管,然后比如某个gate你测到下降输出特别慢,就打通下拉MOS,这样有额外的电流放电,gate的下降速度就上去了,但相应的就有静态功率损耗(因为gate输出相当于直接大电阻下拉到地了,输出为高的时候就有分压电流),而且上升速度会有一定影响(一部分输出电容充电电流被放掉了)

.......

CMOS极限工艺达到极限已经有解了,Intel最新使用三栅技术,22nm可以很轻松的搞定,18nm也没得问题。2012年的Q1会发布Ivy Bridge Module,据说就是使用此技术。

另外Ivy Bridge Module采用了很多的新技术,如全面支持USB3.0等等。

最近在研发Thunderbolt,期待Intel/apple速度开发市场
顶端 Posted: 2011-07-27 19:17 | [1 楼]
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