引用第0楼月夜狼歌于2011-07-26 10:26发表的 论文被收了，有球用 :题目大概是MULTIPLE DELAY FAULT DIAGNOSIS WITH GATE LEVEL CIRCUIT TUNING以前问老板我们做的东西工业界要花几年才能真正用上老板说95%是不用的其他的，运气好10到15年吧
引用第8楼月夜狼歌于2011-07-27 03:54发表的 :原理不难哈现在的芯片制作工艺已经到CMOS极限了。PN结上掺杂原子多几个或者少几个，一个gate的性能就能差不少。然后工艺尺寸（比如现在的23纳米）早就比用来光蚀的激光波长还要短了。类似的种种不确定因素，导致一些gate先天不足，但是长久使用并不会坏。如果丢了又可惜，因为概率上讲特别慢的gate在几千万gate的电路里就那么几个。CIRCUIT TUNING是我老板手下另一个学生做的，在每个gate的输出加一个可编程控制的上拉或者下拉MOS管，然后比如某个gate你测到下降输出特别慢，就打通下拉MOS，这样有额外的电流放电，gate的下降速度就上去了，但相应的就有静态功率损耗（因为gate输出相当于直接大电阻下拉到地了，输出为高的时候就有分压电流），而且上升速度会有一定影响（一部分输出电容充电电流被放掉了）.......
