原理不难哈
现在的芯片制作工艺已经到CMOS极限了。PN结上掺杂原子多几个或者少几个，一个gate的性能就能差不少。然后工艺尺寸（比如现在的23纳米）早就比用来光蚀的激光波长还要短了。类似的种种不确定因素，导致一些gate先天不足，但是长久使用并不会坏。如果丢了又可惜，因为概率上讲特别慢的gate在几千万gate的电路里就那么几个。
CIRCUIT TUNING是我老板手下另一个学生做的，在每个gate的输出加一个可编程控制的上拉或者下拉MOS管，然后比如某个gate你测到下降输出特别慢，就打通下拉MOS，这样有额外的电流放电，gate的下降速度就上去了，但相应的就有静态功率损耗（因为gate输出相当于直接大电阻下拉到地了，输出为高的时候就有分压电流），而且上升速度会有一定影响（一部分输出电容充电电流被放掉了）
所以来说需要确定哪些gate是需要TUNING的。简单的说就是诊断。DC测试，比如呆滞于0或者1（这个自动化或者电工的应该学过）检测，就是看有没有gate该输出0的时候依然输出1；而诊断，就是到底是哪个gate有这种错。AC测试，就是某个gate或者某条通路应该在多长时间内从1变成0，但是超出了这个时间。而诊断一样的，就是确定是哪些gate有这种慢输出问题。
这个很难，就像你宇宙飞船有问题，上千万个零件很难确定是哪个，而电路还是没法拆开的，所以之前需要很复杂的算法。比如假定只有一个gate有问题，多少种输入搭配来剔除可能产生相同错误表现的gate。
不过我这个方法就简单了。你不是TUNING能把慢gate变快么，哥就看需要把最少的哪些gate给TUNE了，这时刚好错误消失，那这些gate就是有问题的那些。
说到底不过是在一个IC测试的环境里，用了下修电脑的元件替换法哈
